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实验室在IEEE/OSA Journal of Lightwave Technology刊发特邀论文 《基于光单边带调制的超高分辨率光矢量分析》
发表于:2020-07-28 11:12:40

新一代光信息系统(光通信、光传感、光处理等)迫切要求光子器件能够对光信号进行多维度(幅度、相位、偏振)和高精细操控,对这些光子器件的多维光谱响应应进行精确测量已成为相关领域创新和突破的前提。然而,目前国内外尚无光矢量分析仪表能测量的具有飞米级别频谱操控精度广汽黑暗的频谱响应。一种实现高分辨率光矢量分析的有效途径是:采用微波管制技术将粗粒度的光域波长扫墓奥转换成高分辨率的微波频率扫描,辅以奥精度电福相检测,进而实现光器件多维光谱响应的超高分辨率测量。然而,改光矢量分析技术仍面临测量范围较窄、动态范围较小和测量误差较大这三个关键挑战。

论文深入分析这三个关键挑战,并讨论相关的测量范围拓展技术、动态范围增强技术和测量误差消除技术。此外,本文还讨论了本技术未来的发展趋势。

[1] S. L. Pan and J. P. Yao, 'Photonics-based broadband microwave measurement,' IEEE/OSA Journal of Lightwave Technology, vol. 35, no. 16, pp.3498-3513, Aug. 2017. [Invited Tutorial] [PDF]

[2]IEEE/OSA Journal of Lightwave Technology